镀层测厚仪又称为覆层测厚仪,其原理如下：
磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,霍尔发现这个电位差UH与电流强度IH成正比,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,与磁感应强度B成正比,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,与薄片的厚度d成反比。通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,磁性测厚法是用来无损的测磁性金属上的非磁性覆盖层的厚度,现在有一款新型的涂层测厚仪,即涂层测厚仪,它采用的是最新的磁感技术。也就是我们知道的霍尔效应,霍尔于1879年发现的。涡流法可无损的测量费磁性金属基体上的非导电层的厚度。通过研究霍尔电压与工作电流的关系,测量电磁铁磁尝磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系,
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\\铁\\银\\镍.此种方法测量精度高
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵,如200型超声涂层测厚仪专用于测量非金属基体上的涂层。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦